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随着led行业的发展，led灯具的高节能、长寿命、利环保的优越性能也获得普遍的公认，但随之而来的led驱动器可靠性低下的问题也成为众人所关注的热点。下面先让我们来分析影响led驱
https://www.alighting.cn/2013/11/6 11:08:39
本文为关于《高低温循环对led器件可靠性的影响》的一篇研究性文章，从背景到实验方法，再到实验的结果，内容详尽，结论清晰。
https://www.alighting.cn/2012/3/13 15:09:36
近日，新世纪led网记者与力为电子赖庚友总经理进行了面对面的交流。访谈中，赖总谈到了力为在人才、技术、产品可靠性等方面做出的努力，表达了对标准模组化的看法，并畅谈了力为未来整
https://www.alighting.cn/news/20110826/86225.htm2011/8/26 15:49:58
日前，在广东省科学技术厅的领导下，在工业和信息化部科技司和电子信息司的大力支持下，工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)在广州举行了“广东省半导体照明质量与可靠性服务中心
https://www.alighting.cn/news/20121109/99060.htm2012/11/9 11:02:26
三十八研究所研究员、高级工程师汪军先生发表了《从军工角度论述led驱动电源的可靠性》的精彩报
https://www.alighting.cn/news/20110725/109003.htm2011/7/25 15:41:15
入室外景观照明、功能性照明、商用照明等领
https://www.alighting.cn/resource/20110526/127547.htm2011/5/26 11:56:27
司董事长熊克苍先生以《如何提高led产品及控制系统的可靠性》为题发表了激情四溢的演讲。附件为其演讲ppt，欢迎下载学习
https://www.alighting.cn/resource/201021/V1072.htm2010/2/1 11:13:59
采用x光双晶衍射仪分析了gan基发光二极管外延材料晶体结构质量并制成gan-led芯片,对分组抽取特定区域芯片封装成的gan-led器件进行可靠性试验。对比分析表明,外延晶片中的
https://www.alighting.cn/resource/20130325/125827.htm2013/3/25 10:51:55
本文详细分析了温度升高对led各光电参数及可靠性的影响，以利于led芯片和 led照明产品的设计开发。
https://www.alighting.cn/resource/20110630/127483.htm2011/6/30 10:02:17
封装可靠性测试与评估 ：led器件的失效模式主要包括电失效(如短路或断路)、光失效(如高温导致的灌封胶黄化、光学性能劣化等)和机械失效(如引线断裂，脱焊等)，而这些因素都与封装结
http://blog.alighting.cn/Autumn/archive/2010/11/18/115036.html2010/11/18 16:56:00
