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oled器件光电性能集成测试系统研制

介绍了计算机与各测试设备的通信方法,通过计算机控制测量器对oled器件进行测量。使用了microsoft visual 2005开发工具,利用mfc(microsof

  https://www.alighting.cn/2013/3/20 10:44:26

中山科顺分析测试公司led专利侵权诉讼案开审

近日,中山灯饰知识产权快速维权中心巡回审判庭开庭审理了中山科顺分析测试公司状告5家同行企业侵犯其led贴片光带方面专利一案,但该案件未当庭宣判。

  https://www.alighting.cn/news/20111230/114260.htm2011/12/30 11:21:28

一张规格书引发的评测——mix5303 led驱动ic测试

一张产品规格书,本是再普通不过了,却引发了一场颇具争议的评测......上海如建电子型号为mix5303的3w led驱动技术文档被一位专业人士逐一测试

  https://www.alighting.cn/pingce/20111220/123361.htm2011/12/20 14:38:59

“2012 gile产品大赛”led样品测试项目正式启动

中国赛西(广州)实验室于4月18日正式启动了“2012 gile产品大赛”led样品测试项目,新世纪led网记者于19日赴检测现场了解最新情况。

  https://www.alighting.cn/news/20120423/99497.htm2012/4/23 12:49:41

中为光电功率型led全自动高速测试与分拣设备专案创新基金获批

据悉,杭州中为光电技术有限公司先前在2007年7月申报的功率型发光二极体(led)全自动高速测试与分拣设备专案创新基金,已经于日前获得审批通过。

  https://www.alighting.cn/news/20080415/107008.htm2008/4/15 0:00:00

致茂获led测试设备订单,业绩有望增2倍

据悉,台厂致茂电子(2360)新产品线led测试设备已获得臺湾龙头大厂的订单,前景看好,预估今年业绩可成长2倍,今年整体营运有望成长20%以上。

  https://www.alighting.cn/news/20080303/107365.htm2008/3/3 0:00:00

sj/t××××-2××× 半导体发光二极管芯片测试方法(报批稿)

半导体发光二极管芯片测试方法(报批稿),本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。本标准由半导体照明技术标准工作组组织起草。

  https://www.alighting.cn/news/20110712/110112.htm2011/7/12 11:26:28

沃特测试·莱茵tüv照明灯具产品新标准要求解析研讨会

2015年6月19日,沃特测试携手德国莱茵tüv在中山市小榄镇举办照明灯具产品新标准要求解析研讨会,近两百位照明灯具厂商代表参加了本次会议。

  https://www.alighting.cn/news/20150703/130658.htm2015/7/3 17:26:23

近朗伯光型led透镜的光学设计

根据朗伯光源的特点, 定义近朗伯光源函数, 设计led透镜的光学模型, 求得led的截面曲线方程, 运用龙格库塔法求解方程并在matlab中使用多项式拟合获得相关数据及修正后的数

  https://www.alighting.cn/resource/2011/9/29/165824_78.htm2011/9/29 16:58:24

洲明科技获tüv süd目击测试授权证书

近日,tüv南德意志集团(以下简称tüv süd)为深圳市洲明科技股份有限公司(以下简称洲明科技)颁发了目击测试授权证书。这为洲明科技不断提升自主研发能力和严格把控产品质量再度提

  https://www.alighting.cn/news/201317/n040447741.htm2013/1/7 10:51:50

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