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路灯处领导眼中的led路灯

射。达不到覆盖二灯之间的暗区。详见图一和图二两个灯具的曲线图。  高压钠灯的发源不受方向性的限制,通过的二次分形成蝙蝠翼形,它的最大强值在60°~65

  http://blog.alighting.cn/qsimple/archive/2008/10/12/676.html2008/10/12 18:34:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

酒店大堂照明设计

2) 关于:挑高若超过6m,在顶棚采用点式合窄束的照明器,提供连续的、均匀的亮度。由于发点不在人的视野范围内,所以灯具可以是敞开式的。假设顶棚到地面的距离是6m,那么它

  http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2013/3/10/310549.html2013/3/10 10:22:43

plc照明控制方法 - 实现led照明智能化

本。电能测量、环境检测和通信是智能led照明设计的基础:电能测量提供系统的健康运转及能耗信息;环境检测可以减少led的实际照明时间,节约电能并延长二极管寿命;通信功能则将每个

  https://www.alighting.cn/resource/2013/12/20/15419_31.htm2013/12/20 15:04:19

电子书《led结构原理与应用技术》

本书结合国内外led技术的发展和应用情况,以led的封装技术和驱动技术为核心,全面系统地阐述了led的最新应用技术。全书内容共分11章,分别详细介绍了与照明、静电危害与防护

  https://www.alighting.cn/resource/2012/12/26/16498_01.htm2012/12/26 16:49:08

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