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近驱动器的位置。此外，电流设定电阻(rfb)应该直接连接至芯片的接地，因为内部参考和检测电压之间的错误会直接影响led电流精确度。 4. 在真实环境下测您的试产品 考虑显示屏在外
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258580.html2011/12/19 11:01:23
光。这是因为当芯片是以高电流来驱动时，所产生的高热会造成铜 导线框（lead-frame）从原先封装好的位置迁移。因此在芯片与导线框间存在着tce的不协调性，这种不协调性是对led可
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258579.html2011/12/19 11:01:19
进参考。1.)led芯片&封装组件发光效率关键技术指针：首要之led芯片&封装组件关键技术美、日厂商均已量产突破发光效率100~120 LM/w以上，超越传统最高效
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258578.html2011/12/19 11:01:16
在发现电子发光机理的十年后,有机发光二极管(oled)技术最终商用在手机,mp3和数码相机中。按display search的数据报告, 从2001年第一颗单芯片oled驱动器
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258577.html2011/12/19 11:01:14
口方式0似乎可以利用单片机发出的移位脉冲将8位数据送入74hc595中，但要实现图2中8位数据的同时输入必须加入其他的辅助芯片，而且在减小数据传输时间上没有什么好处。其次，采
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258576.html2011/12/19 11:01:12
tlc5902是美国texas instruments公司生产的专门用于图像显示的led驱动芯片，该器件集移位寄存器、数据锁存器于一体，同时带有电流值调整恒流电路以及脉宽调制25
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258574.html2011/12/19 11:01:08
介绍了led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50
器可通过选用enable_dim控制或shunt_dim控制，配置成使能调光或并行调光。图3表示图2中的led驱动器的典型使能调光波形，这些波形是用LM3045(1a的16mhz固定频
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258566.html2011/12/19 11:00:43
d,hfbr－24xz内部集成了包括pin光电检测器、直流放大器及集电极开路输出schottky型晶体管的一个ic芯片,其输出可直接与流行的ttl及cmos集成电路相连。4一种实用的光
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258565.html2011/12/19 11:00:41
led平板显示器是一种超薄型、高可靠、全固体化的集成光电子综合显示系统,它主要由集成化led(发光二极管)显示屏、译码控制专用集成电路芯片等器件经二次混合集成而成,能在白光、微光
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