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介绍了led芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50
定值,如果设计的电路使每个led分担电压或电流过高就会严重影响led的使用寿命甚至烧毁led,如果分担的电压或电流过低则激发的led光强不够,就不能充分发挥led应有的效果,达不
http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258655.html2011/12/19 11:11:16
http://blog.alighting.cn/119379/archive/2011/12/20/258859.html2011/12/20 15:57:25
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261418.html2012/1/8 21:27:52
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08
光纤通信性能影响的基础上,给出了一个简洁实用的led驱动电路。关键词 光纤 led 驱动电路我们在研制一个阵列信号处理系统中,由于阵列天线必须放置于四周开阔地带,而阵列信号处理单
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261502.html2012/1/8 21:46:50
http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261517.html2012/1/8 21:47:31
源管理模式在国内的发展趋势如何？对国内led路灯市场发展具有怎样的意义？对国内led路灯企业又将产生怎样的影响？带着这些问题，中国半导体照明网采访了《半导体照明》杂志编委徐连城，以
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http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262589.html2012/1/29 0:32:05
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