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具备高温保护功能的白光lED驱动器电路

度范围以外,任何ic的寿命都会缩短。当芯片的结温超过特定值后,就会彻底损坏。lumilEDs luxeon大功率lED模组由于是在热增强型基底上制造的,因而发热会少一些。这种基底材

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230157.html2011/7/19 0:14:00

可驱动32个lED的bl8532

bl8532是适用于lED驱动的pfm控制模式的开关型dc/dc升压恒流芯片,通过外接电阻调节可使输出电流恒定在0-500ma。bl8532可以通过多个并联或多并两串的方法给多

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230153.html2011/7/19 0:12:00

lED灯光系统设计方法

d灯光控制专用芯片介绍,硬件设计思路以及软件设计思路。名词解释彩色像点:为了让lED灯光呈现彩色显示,需要由至少2个以上的不同颜色lED组成一个像素点。红绿蓝lED搭配根据亮度和灰

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230150.html2011/7/19 0:11:00

lED恒流驱动与不同控制模式的比较

示亮度。下面就介绍几种采用不同技术控制lED驱动的控制模式。市场上可以买到的微功率电源芯片有以下几种控制模式:pfm、pwm、charge pump、fpwm、pfm/pwm以

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230148.html2011/7/19 0:10:00

lED照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策

数与实际使用情况有明显差异,这一般都是lED芯片 (器件)生产商采用的快速检测方法,而与lED 实际应用在最终照明器具中的状态不具有可参比性。  第二种检测方法是把lED模块安

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230134.html2011/7/19 0:03:00

lED路灯特性室内外长程测试中的误差分析

能的因素较多,如电源 驱动 的特性、光学元件 的耐候性、整灯结构的防水防尘性能等都会严重地影响系统的光效和寿命,即光用lED 芯片或模组的光学特性并不能完整地描述灯具的性能,因此必

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230135.html2011/7/19 0:03:00

lED光源的视觉亮度与灯具测量的误差分析

随着lED芯片 封装技术的发展,大功率 白光lED 照明技术已经日趋成熟,并以加速度的发展规模进入了照明实践。lED光源 的发光原理和传统其它光源存在很大的不同,发出白色的光是我

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230130.html2011/7/19 0:00:00

lED照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策

与实际使用情况有明显差异,这一般都是lED 芯片(器件)生产商采用的快速检测方法,而与lED 实际应用在最终照明器具中的状态不具有可参比性。  第二种检测方法是把lED模块安装在检

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230132.html2011/7/19 0:00:00

lED分选技术

亮、色温、工作电压、反向击穿电压等几个关键参数进行测试与分选。lED的测试与分选是lED生产过程中的一项必要工序。目前,它是许多lED芯片和封装厂商的产能瓶颈,也是lED芯片

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lED芯片封装缺陷检测方法研究

引脚式lED芯片封装工艺中封装缺陷不可避免。基于p-n结的光生伏特效应和电子隧穿效应,分析了一种封装缺陷对lED支架回路光电流的影响。利用电磁感应定律对lED支架回路光电流进

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