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本文采用cu靶和al靶直流共溅射法制备出p型透明导电cu-al-o薄膜,用原子力显微镜(afm)、x射线衍射(xrd)仪、四探针测量仪、紫外-可见分光光度计等测试手段对沉积的薄
https://www.alighting.cn/resource/20111020/126989.htm2011/10/20 14:02:02
构表征及原子力显微镜(afm)的形貌表征,发现折射率的变化主要归因于薄膜堆积密度的改
https://www.alighting.cn/2011/10/20 13:44:44
采用无催化脉冲激光沉积(pld)方法,在inp(100)衬底上生长纳米zno柱状结构。采用扫描电子显微镜(sem)、x射线衍射(xrd)以及光致发光(pl)谱等表征手段对zno纳
https://www.alighting.cn/resource/20111018/127005.htm2011/10/18 14:57:08
采用常压mocvd方法在cu/si(111)基板上生长zno薄膜,研究了缓冲层的生长温度对zno外延膜性能的影响。实验通过干涉显微镜、原子力显微镜、高分辨x射线衍射仪、光致发光谱
https://www.alighting.cn/resource/20111018/127007.htm2011/10/18 14:32:44
及红外粗糙因子 ,表明在较低的 ph值的nh4f-hcl溶液中腐蚀的si(1 1 1 )表面粗糙度较大,与通过扫描隧道显微镜 (stm)技术测量的结果基本一致
https://www.alighting.cn/2011/10/17 14:03:59
二次光学设计目的是为了改变led发光角和光强分布以满足灯具应用需求。本文介绍led处级光学，led二次光学， 基本光学类型，反射镜，溢出角计算，led透镜的材料种，光学模型和模
https://www.alighting.cn/resource/2011/9/29/163340_15.htm2011/9/29 16:33:40
所独有的特色夜景
https://www.alighting.cn/resource/2011/9/19/151752_98.htm2011/9/19 15:17:52
采用自制的低压金属有机化学汽相淀积lp-mocvd设备,在(100)面gasb单晶衬底上外延生长了inassb材料.用x射线双晶衍射、光学显微镜和扫描电镜、电子探针能谱仪等对材
https://www.alighting.cn/2011/9/19 9:46:39
本文主要利用x射线衍射和透射电子显微镜技术对蓝宝石衬底上生长的gan基led外延片的微结构进行了研究,主要研究工作为: 1.采用x射线衍射绝对测量法精确测量了gan薄膜的晶格参
https://www.alighting.cn/resource/20110916/127130.htm2011/9/16 15:30:52
使用扫描电子显微镜、高分辨率x射线衍射、raman散射、原子力显微镜、透射电镜等测试手段,对高铝组分的algan样品表面形貌的形成原因进行研究。结果表明,aln缓冲层的晶体质量,
https://www.alighting.cn/2011/9/15 10:11:48
