检索首页
阿拉丁已为您找到约 1883条相关结果 (用时 0.0149107 秒)

led光学性能测试技术的探讨

同也可能造成测试结果大相径庭。本文主要探讨使用德国instrument systems 公司的cas140ct 快速光谱仪进行led 光学性能测试时,不同的测试条件如暗电流、积分时间

  https://www.alighting.cn/2013/4/19 14:18:55

led背光源用于场序彩色lcd的研究

下形成的彩色对人眼的视觉影响;研究在不同场频和不同占空比情况下,led的发光特性曲线,确定白平衡情况下led三基色的等量关系;研究led三基色形成的白光光谱与三基色各光谱之间的关

  https://www.alighting.cn/2013/4/3 10:13:43

oled器件光电性能集成测试系统研制

够对不同器件的测试结果进行性能曲线的对比。编写了色坐标助手软件,实现对测试软件测试的光谱数据的分析显示功

  https://www.alighting.cn/2013/3/20 10:44:26

积分球光源分布温度对宽波段光学遥感器绝对辐射定标的影响及其校正

实测了积分球输出光谱辐亮度分布曲线,并得到积分球光源的分布温度。从理论上分析了积分球光源分布温度影响宽波段光学遥感器绝对辐射定标精度的原因和机理,并仿真计算了包括积分球和太阳在

  https://www.alighting.cn/resource/20130311/125919.htm2013/3/11 10:29:20

si基zno/ga_2o_3氨化反应制备gan薄膜

膜。xrd测量结果表明利用该方法制备的gan薄膜是沿c轴方向择优生长的六角纤锌矿多晶结构的薄膜,利用傅里叶红外吸收光谱仪测量了薄膜的红外吸收谱,利用sem和tem观测了薄膜形貌,p

  https://www.alighting.cn/resource/20111025/126963.htm2011/10/25 14:55:29

lp-mocvd生长ingan及ingan/gan量子阱的研究

关,生长温度由800℃降低到740℃,in组份的从0.22增加到 0.45 ;室温ingan光致发光光谱(pl)峰全半高宽(fwh m)为15.5 nm;ingan/gan量子阱

  https://www.alighting.cn/resource/20111018/127009.htm2011/10/18 14:04:18

gan led外延片微结构分析及性能研究

数,2.利用高分辨x射线衍射对gan基led外延片的超晶格结构进行了测量, 3.利用高分辨透射电子显微镜对gan基led外延片进行了分析 4.利用f7000荧光光谱仪对样品进行了光

  https://www.alighting.cn/resource/20110916/127130.htm2011/9/16 15:30:52

图形蓝宝石基gan性能的研究

x射线摇摆曲线中,其(0002)面及(10-12)面的半峰全宽分别降低至202.68 arcsec,300.24 arcsec。透射光谱中,其透射率最高,调制深度最大;光致发光谱

  https://www.alighting.cn/resource/20110905/127200.htm2011/9/5 10:19:25

led照明产品检测方法中的缺陷和改善的对策

传统的 led 及其模块光、色、电参数检测方法有电脉冲驱动,ccd 快速光谱测量法,也有在一定的条件下,热平衡后的测量法,但这些方法的测量条件和结果与led 进入照明器具内的实

  https://www.alighting.cn/resource/20101126/128191.htm2010/11/26 18:06:04

为什么要减低白光led光衰?

品等优点,而没有白炽灯高耗电、易碎及荧光灯废弃物含汞污染等缺点,同时led光谱分布情况也决定了其色纯度和饱和度也是传统光源所无法比

  https://www.alighting.cn/resource/20160720/142050.htm2016/7/20 9:56:08

首页 上一页 69 70 71 72 73 74 75 76 下一页