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2011年乌克兰医疗展览会

2011年乌克兰医疗展览会|乌克兰国际医疗机械设备展|乌克兰医疗机械设备展专业出国参(观)展组织机构——上 海 萬 軒 展 覽 服 務 有 限 公 司shangha

  http://blog.alighting.cn/wanxuan008/archive/2011/6/19/221974.html2011/6/19 17:48:00

2011第十八届广州酒店用品展览会

2011第十八届广州酒店设备用品展览会 第十八届广州清洁设备用品展览会、厨房设备展览会、酒店家具展览会、餐饮设备展览会 第十八届广州食品饮料展览会 项目经理:李健荣 电

  http://blog.alighting.cn/fxstation/archive/2011/6/24/226830.html2011/6/24 8:22:00

发展我国led封装业的具体建议与方案

随着近年来手机的闪光灯、大中尺寸的led显示屏光源模块以至特殊用途照明系统之应用逐渐增多。末来再扩展至用于一般照明系统设备,采用白光led技术之大功率(highpower)le

  http://blog.alighting.cn/xyz8888888/archive/2011/10/1/242858.html2011/10/1 0:02:35

led路灯电源防雷设计

使地电位敏捷拾高,形成反击事端,损害人身和设备安全。 (2)雷电流发作强壮的电磁波,在电源线和信号线上感应极高的脉冲电压。 (3)雷电流流经电气设备发作极高的热量,形成火灾或爆破事

  http://blog.alighting.cn/184907/archive/2013/6/29/320150.html2013/6/29 13:12:04

重庆菜袁路实测数据,三月后复测数据报告

据显示lvd无极灯复测平均照度已衰减20%,没有达到预计95%的光通维持率,期待厂家到现场解决问题。因此,我专门飞重庆做了二次测试。并写了相关解决方案报告,现提供出来和大家分享,本文

  http://blog.alighting.cn/LVDEXPERT/archive/2009/9/28/10372.html2009/9/28 16:20:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2光电参数测试方法与器件配光曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行光电参数测试筛选,淘汰光电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

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