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led芯片/器件封装缺陷的非接触检测技术

d的所有光、电特性产生影响;而在支架的固晶、压焊过程中,则有可能产生芯片错位、内电极接触不良,或者外电极引线虚焊或焊接应力,芯片错位影响输出光场的分布及效率,而内外电极的接触不良或

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230108.html2011/7/18 23:49:00

各种“酷刑” 检测照明产品的的靠性

表和时钟。主要测试项目:高温低压启动、高温安全运行。测试数量:10个。测试方法:把待测灯具 放进温箱,连接电路,把调压器的输出电压调至180v(调压器仅给待测灯具供电),打开

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/18/230112.html2011/7/18 23:51:00

利用单芯片mcu提高照明系统能源效率

力,输出比较或脉宽调制具有低至125 ns的定时精度。 另外,mc68hc908lb8还包括一个带有理想驱动半桥的互补输出对的hrp模块。可编程的空载时间插入和短路预防功能可保证最

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/19/230302.html2011/7/19 23:52:00

光纤照明和led照明的比较

源维护的工作量,且无漏电危险。[page] 4)室外喷泉水下照明 采用端发光系统,配置水下型终端,用于室外喷泉水下照明,且可由音响系统输出的音频信号同步控制光亮输出和光色变换。其照

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230342.html2011/7/20 0:18:00

高亮度高纯度白光led封装技术研究

4h后,光输出才会下降至80%,而这种功率led最高效率可达到44.3lm·w-1,最高光通量为l 87lm,产业化产品120im,ra为75~80。目前,国内外制作白光led的方

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230482.html2011/7/20 23:12:00

[原创]ssl/led照明产品美国能源之星解析

过铺助驱动器才能云行的led封装、阵列或模块。 明维持(lumen maintenance):光通量输出的维持率,是明衰减的逆过程。 led光源失效(led ligh

  http://blog.alighting.cn/李高/archive/2011/7/26/230862.html2011/7/26 14:36:00

照明常识、术语

时考虑灯泡的损坏以及光束输出衰减的状况下,其综合光束输出至一特定比例的小时数。此比例用于室外的光源为百分之七十,用于室内的光源如日光灯则为百分之八十。 色温

  http://blog.alighting.cn/COSMOTO_ENERGY/archive/2011/8/2/231466.html2011/8/2 10:13:00

照明的基础知识

e life) 指一批灯燃点,当其中有 50%的灯损坏不亮时所燃点的小时数。单位:小时( h) 11、经济寿命 (economic life) 在同时考虑灯泡的损坏以及光束输出

  http://blog.alighting.cn/elux24/archive/2011/8/5/231893.html2011/8/5 14:34:00

高亮度高纯度白光led封装技术研究

4h后,光输出才会下降至80%,而这种功率led最高效率可达到44.3lm·w-1,最高光通量为l 87lm,产业化产品120im,ra为75~80。目前,国内外制作白光led的方

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/8/18/232671.html2011/8/18 1:26:00

基于dsp的液晶显示器接口设计及控制实现

对读写周期较慢的输入/输出设备(如液晶显示模块、打印机、键盘等)进行访问,通常用以下两种方法来解决dsp与这些慢速设备之间的输入/输出时序匹配问题。直接访问。直接访问方式是将ds

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232800.html2011/8/19 0:05:00

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