【每日标讯】4月3日照明相关招标、中标项目汇总

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leD芯片寿命试验

件的特点，经过对比试验和统计分析，最终规定了0.3×～0.3mm2以下芯片的寿命试验条件：● 样品随机抽取，数量为8～10粒芯片，制成ф5单灯；● 工作电流为30ma；● 环境条件

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  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

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基于hv9931的单位功率因数leD驱动器设计

止，中断输出leD电流。 单级单开关非隔离无变压器buckboost-buck电源拓扑由两部分组成：l1、cl、Dl和D4组成输入buckboost级，它与l2、D2、D3和c0组

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2011年荷兰视听展ise/2011欧洲视听展王小姐05925063301/兴华商

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