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光源在工程应用中的一些常识

命与其芯片的质量和封装技术、工艺直接相关,据某led封装厂的试验数据有些芯片在20ma条件下连续点亮4000小时后其光亮度衰减已达50%。但是随着技术、工艺的提高,光衰时间越来越缓

  http://blog.alighting.cn/175310/archive/2013/6/10/319000.html2013/6/10 16:28:29

iec60950标准增补文件a2:2013(转载)

iec发布iec 60950-1:2005(2.0版)第二份增补文件a2:2013 国际电工委员会(iec)于2013年5月28日发布了iec 60950-1:2005(2.0

  http://blog.alighting.cn/122599/archive/2013/6/10/318999.html2013/6/10 16:02:11

璨圆光电:照明用led的发展与挑战以及解决方案

在“2013新世纪led高峰论坛”技术峰会iii“外延芯片技术及设备材料最新趋势”专题分会上,璨圆光电业务经理贺志平先生代璨圆光电董事长简奉任博士发表了“照明用led的发展与挑

  https://www.alighting.cn/news/20130610/88292.htm2013/6/10 15:57:42

晶能光电孙钱:硅基氮化镓大功率led的研发及产业化

在“2013新世纪led高峰论坛”技术峰会iii“外延芯片技术及设备材料最新趋势”专题分会上,晶能光电(江西)有限公司硅基led研发副总裁孙钱博士就“硅基氮化镓大功率led的研发

  https://www.alighting.cn/news/20130610/88293.htm2013/6/10 14:48:59

华灿王江波:大电流应用下的led外延与芯片关键技术

在“2013新世纪led高峰论坛”技术峰会iii“外延芯片技术及设备材料最新趋势”专题分会上,华灿光电研发经理总裁助理王江波先生就“大电流应用下的led外延与芯片关键技术研究”发

  https://www.alighting.cn/news/20130610/88423.htm2013/6/10 14:21:06

静电对led焊锡的危害(二)

料可有效地将产品屏蔽开静电,减少由于包装内任何产品移动而产生的静电。5、检测你的过程与环境例如,利用场强计(fieldmeter)检测是否有可能产生esd危害的静电场的存在。测量是

  http://blog.alighting.cn/hanxiji/archive/2013/6/10/318992.html2013/6/10 14:00:09

新世纪光电李允立:高功率led的发展与智能照明应用

在“2013新世纪led高峰论坛”技术峰会iii“外延芯片技术及设备材料最新趋势”专题分会上,新世纪光电cto李允立 博士发表了“高功率led的发展与智能照明应用”的主题演讲。李

  https://www.alighting.cn/news/20130610/88425.htm2013/6/10 12:18:23

双日机械中口正之: led产业链上中下游技术发展方向

在“2013新世纪led高峰论坛”技术峰会iii“外延芯片技术及设备材料最新趋势”专题分会上,双日机械(上海)有限公司高级电子系统经理中口正之发表了题为“led产业链上中下游的技

  https://www.alighting.cn/news/20130610/88427.htm2013/6/10 11:35:53

中山大学王钢:基于氧化锌(zno)透明导电薄膜的蓝光led芯片技术

在“2013新世纪led高峰论坛”技术峰会iii“外延芯片技术及设备材料最新趋势”专题分会上,中山大学佛山研究院王钢 教授发表了“基于氧化锌(zno)透明导电薄膜的蓝光led芯

  https://www.alighting.cn/news/20130610/88505.htm2013/6/10 10:54:07

景观灯安装方法

1%。5. 对基础四周进行压实处理,以保证其稳定性。6.混凝土标号必须满足设计要求,浇注完成后必须进行不少于7天的保养,达到混凝土强度80%以上方可拆模、安装。7.安装景观灯时

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