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LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在LED寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

LED 隧道照明设计【图】

随着隧道项目日益增多,隧道建设在现代交通运输中起到越来越重要的作用。隧道是一段封闭的空间,自然无法照射其中,为了保证行驶的连贯性及行车人的生命安全,即便是白天其内部全程也需要人

  https://www.alighting.cn/news/20100713/102137.htm2010/7/13 15:34:17

[原创]建筑物少用玻璃幕墙室内装修合理布置

源类型、方式等一系列问题。具体来讲,一是要注意色彩的协调;二是要避免眩 ,以利于消除眼睛疲劳,保护视力;三是要合理分布源,顶棚照要照亮;四是线照射方向和强弱要合适,避

  http://blog.alighting.cn/1285/archive/2011/5/19/179727.html2011/5/19 11:02:00

室内LED灯具发展思路探讨

场情况和国家对LED行业的重视程度上看,LED行业标准的制定势在必行,而目前室内LED灯具的相关标准为达到替换目的,满足照明使用要求,均参考传统灯具的尺寸结构形式、出形式、

  http://blog.alighting.cn/110131/archive/2012/4/12/272036.html2012/4/12 11:20:51

飞利浦推出高性价比飞凡LED灯管

近日,飞利浦发布了全新飞凡LED灯管。作为飞利浦经济型15w LED塑料灯管的升级,飞利浦飞凡LED灯管的亮度提升了33%,效提升了25%,是一款高性价比的LED灯管,同时也

  https://www.alighting.cn/pingce/20140925/121479.htm2014/9/25 11:49:26

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