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题： 1、采用的lEd芯片体质不好，亮度衰减较快。 2、生产工艺存在缺陷，lEd芯片散热不能良好的从pin脚导出，导致lEd芯片温度过高使芯片衰减加剧。 二、使用条件问题：
http://blog.alighting.cn/85771/archive/2012/12/26/305651.html2012/12/26 17:19:31
财政补贴模式的优点是能迅速招来大项目，甚至短时间内就形成产业集聚效应，争议之处是政府定位问题。如今，“找市场不如找市长”的口号重新流行。新兴产业以后还将不断涌现，研究人士认为，产业
https://www.alighting.cn/news/20121226/88474.htm2012/12/26 16:24:04
【lEd镂空屏网】据推测，明年1~2月是行业“最冷、最难过”的时间点，预计明年外延芯片企业所剩将不足30家，三家国产mocvd设备制造商会出现，但还不会有产品销售，封装厂会倒闭2
http://blog.alighting.cn/jadsion/archive/2012/12/26/305638.html2012/12/26 14:45:45
含驱动电路ul 1993E27 basE 是欧规，不能使用在北美市场。北美市场需用 E26 basElEd 灯泡 (非 ansi basE)，内含驱动电路ul 496-lEd 模
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305636.html2012/12/26 14:38:20
1、生产过程中和使用废弃后有汞污染,目前西方国家对汞污染是相当的重视.国人也越来越认识到了汞污染的危害性. 2、由于是玻璃制品,易破碎,不好运输,不好安装. 3、其耗
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305634.html2012/12/26 14:35:43
变一个或多个光源发出的光线的一种器具、并包括支承、固定和保护光源必需的部件、但不包括光源本身，以及必需的电路辅助装置和将它们与电源连接的设备。 2、普通灯具：对带电部分提供保
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305633.html2012/12/26 14:33:09
铁、万用表等安装检测工具 2.能检查、判别灯具各部件的质量 1.电工安装及检测仪器仪表工具的使用方法 2.灯具各部件的识别知识及测量方法 3.电子元件的识别方法
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305632.html2012/12/26 14:32:58
1mm。灯杆焊接方式为自动亚弧焊接，着色探伤检验达焊接国际gb/t3323-1989111标准要求。灯杆套接方式采用穿钉加顶丝固定。 2、灯杆防腐处理为热镀锌，。镀锌层表面光滑美
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305631.html2012/12/26 14:32:49
情况下，则只能依靠环境提供可靠的保护的灯具。 2、ι类灯具：不仅依靠基本绝缘防止触电，还会附加安全保护措施（接地），对触及之导电部件皆装有固定连接至接地导线，因此当基本绝缘一旦失
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305630.html2012/12/26 14:22:03
用表dc20v档测v4、E级是否有电压（正常时为5v~6v），若无则继电器损坏，若有则v3、v4管损坏。 2． 充电24小时后，红灯不灭怎么办？ 答：测电池两端电压是否达到要
http://blog.alighting.cn/gzds3142/archive/2012/12/26/305629.html2012/12/26 14:21:49
