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led芯片寿命试验

量的对比试验,提出了较为科学的样品抽取方式:将芯片按其在外延片的位置分为四,分情况参见图一所示,每2~3粒芯片,共8~10粒芯片,对于不同器件寿命试验结果相差悬殊,甚至矛盾的情

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

工业级高信赖性led路灯系统评量指针

达10万小时以上的观念相去甚远。3.)led路灯系统热传散热环境温度关键技术指针:因此灯具系统工作温度不得高于85-10=75℃,工研院led道路照明示范灯具规范规定耐久性试验环

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261489.html2012/1/8 21:45:52

芯片大小和电极位置对gan基led特性的影响

n电极近的扩展电极域下面的电流密度较大,把p焊线电极移到远离n电极,增加了可透光部分电流,减小了p焊线电极下会吸光的电流。在大电流条件下,一方面电流密度大易饱和,另一方面由于等

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261482.html2012/1/8 21:45:35

led显示屏动态显示和远程监控的实现

由pc机控制,因此不可能预先把需要显示的内容做成点阵存在单片机中,而只能由pc机即时地把所需显示的点阵数据传给单片机并存入缓冲6264。  该电路的显示采用逐行扫描方式。工作时,

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261480.html2012/1/8 21:45:34

led显示屏动态显示和远程监控的实现

由pc机控制,因此不可能预先把需要显示的内容做成点阵存在单片机中,而只能由pc机即时地把所需显示的点阵数据传给单片机并存入缓冲6264。  该电路的显示采用逐行扫描方式。工作时,

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261476.html2012/1/8 21:40:20

led结温产生的根本原因及处理对策

1、什麼是led的结温? led的基本结构是一个半导体的p—n结。实验指出,当电流流过led元件时,p—n结的温度将上升,严格意义上说,就把p—n结的温度定义为led的结温。通

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261458.html2012/1/8 21:36:25

led 组装静电防护最低要求

电。 防静电设计原则 抑制静电荷的积累和静电压的产生。如设备、仪器、工装不使用塑料、有机玻璃、普通塑料袋。 1. 安全、迅速 ,有效地消除已产生的静电荷 ,使用有绳防静电腕防静电

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261432.html2012/1/8 21:28:50

照度标准及照明质量

明质量: 照明质量包括光环境的亮度分布、照度均匀度、光色和显色性、眩光限制水平、光的方向性和物体立体感等。 1、亮度分布: a)、工作亮度分布: 作业亮度和环境亮度不宜过

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261421.html2012/1/8 21:28:07

led照明是最具发展前景的照明产业

值450亿元。   我国也高度重视led照明的作用。早在2008年底,科技部、财政部就启动了“十城万盏”示范工作,计划到2010年在10—20个城市推广30万盏以上led市政照

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261419.html2012/1/8 21:27:52

关于白光led的两种做法

结.因此它具有一般p-n结的i-n特性,即正向导通,反向截止、击穿特性.此外,在一定条件下,它还具有发光特性.在正向下,电子由n注入p,空穴由p注入n.进入对方域的少

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