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3微a 3、闪光频率：2.7hz 4、脉冲电流最大值：80ma 5、连续工作时间：≥100h 6、外形尺寸：长
http://blog.alighting.cn/wuying/archive/2008/3/13/13311.html2008/3/13 10:49:00
流:160ma 5、连续工作时间:10h 6、充电时间:8-10h 7、外形尺寸:长X宽X高:130X88X43mm 8、重量:
http://blog.alighting.cn/wuying/archive/2008/3/13/13312.html2008/3/13 10:50:00
单电感非隔离pn831X芯片系列，应用于buck架构的超精简外围的驱动方案，特点是外围元件少、内置高压开关mos和启动mos、集成自供电技术、保护功能齐全(开路保护通过外部fb电
https://www.alighting.cn/2015/1/5 10:51:30
为求解硅基热沉大功率led封装阵列在典型工作模式下的热传导情况，采用solidworks建立了2X2封装阵列的三围模型，模拟了其温度场分布，同时结合传热学基本原理分析计算了模型各
https://www.alighting.cn/resource/20140617/124506.htm2014/6/17 11:53:43
o薄膜质量下降的旋转畴和倒反畴的形成. 反射式高能电子衍射(rheed)原位观察以及高分辨X射线衍射(hrXrd)、透射式电子显微(tem)和会聚束电子衍射(cbe
https://www.alighting.cn/2013/5/29 9:57:49
通过脉冲激光沉积方法在1.3pa氧氛围,100-500℃衬底温度,si(111)衬底上成功地制备了zno薄膜,我们用X射线衍射(Xrd)谱,原子力显微镜(afm),透射电镜(te
https://www.alighting.cn/resource/20130515/125605.htm2013/5/15 11:28:09
采用高温固相法合成了适用于蓝光和近紫外光led芯片的钇铝石榴石黄色荧光粉和硅酸锶钡掺铕绿色荧光粉，通过X射线衍射(Xrd)分析、扫描电镜(sem)观察、粒度分析仪测试和光谱仪检测
https://www.alighting.cn/2012/3/6 17:52:02
本文采用cu靶和al靶直流共溅射法制备出p型透明导电cu-al-o薄膜,用原子力显微镜(afm)、X射线衍射(Xrd)仪、四探针测量仪、紫外-可见分光光度计等测试手段对沉积的薄
https://www.alighting.cn/resource/20111020/126989.htm2011/10/20 14:02:02
用脉冲激光沉积(pld)技术制备了zno/sic/si和zno/si薄膜并制成了紫外探测器。利用X射线衍射(Xrd),光致发光(pl)谱,i-v曲线和光电响应谱对薄膜的结构和光
https://www.alighting.cn/2011/10/17 14:14:12
法制备了未掺杂zno薄膜。通过X射线衍射、拉曼光谱、光致发光光谱和吸收光谱对其结构和光学性质进行了表
https://www.alighting.cn/2011/10/17 13:48:48
