检索首页
阿拉丁已为您找到约 1243条相关结果 (用时 0.0027763 秒)

led电源(技术/公司/厂家/图片/专业/选择)

率......................47-63hz 输入浪涌......................冷启动,30a/230vac 输出电压调节范围..............±10% 电压调整率(满

  http://blog.alighting.cn/ledsup/archive/2010/5/17/44624.html2010/5/17 13:54:00

led基础知识之eos与esd的区别

s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/233077.html2011/8/19 23:53:00

led基础知识之eos与esd的区别

s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258524.html2011/12/19 10:58:10

led基础知识之eos与esd的区别

s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261542.html2012/1/8 21:49:00

led基础知识之eos与esd的区别

s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262715.html2012/1/29 0:39:30

led基础知识之eos与esd的区别

s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271817.html2012/4/10 23:38:07

led基础知识之eos与esd的区别

s 脉冲导致的损坏与esd损坏相似。3.闪电。4.测试程序开关引起的/毛刺/短时脉冲波形干扰。5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274702.html2012/5/16 21:27:11

led灯具散热技术分析

高10℃,寿命约减少一半。因此,led热管理十分重要。 热传递的三种基本方式为:传导、对流和辐射,热管理也从这三方面入手,分为分析和稳分析。散热器的主要传递途径为传导和对流散

  http://blog.alighting.cn/ahwlkj/archive/2010/11/22/115868.html2010/11/22 17:07:00

[原创]未来新能源电池,将更多的丰富我们的生活

式仅吸取 44ua 电流。该充电器与高达 5.5v (最高绝对值为 7v 以增加坚固性) 的输入兼

  http://blog.alighting.cn/kuaileshenghuo/archive/2011/7/8/229349.html2011/7/8 16:01:00

汽车电磁兼容测试方法(1381485599)

令增加了对零部件抗扰度的测试要求,参考标准为iso 7637-2 、-3。 emc7637干扰测试仪器根据国际标准化组织制定iso7637-2:2004和gb/t21437

  http://blog.alighting.cn/sztest/archive/2010/5/26/46184.html2010/5/26 11:49:00

首页 上一页 7 8 9 10 11 12 13 14 下一页