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际情况制造专用的老化设备。g：老化试验。新产品在投产前,必须在数量上分别通过小批试产和中量试产的阶段,通过这些试验可找出非设计问题如原材料和工艺问题。下面就是具体的试验方法。主要测
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e；ucs)坐标上,与普朗克轨迹(planckianlocus)的偏差量(duv)须小于0.02这三项条件。值得注意的是,在此定义中,rgb三色led将被排除在照明用白光led的范围之
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种做法,一种是使用传统小功率led作组合,一般多达上百颗甚至数百颗,电源设计复杂。另一种是使用大功率管作光源,价格比较贵。两种方法都不可避免地要将散热设计和工作可靠性作为主要设计考
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v(有效值)并且峰值≤33 2 v 时,输出端子可外露。(3)输出端子和电源电路之间。为了emc 防护或控制要求所跨接的电容器应是y1 电容或两个串联的且参数相同的y2 电容。 适
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一、主体思路：因为发光二极体具有单向导电性,所以我们使用 r × 10k 档可测出其正、反向电阻。一般正向电阻应小於 30k 欧姆,反向电阻应大於 1m 欧姆。若正、反向电阻均为
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灯的中心光强和光束角可参照iec6134
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学上既有一般光源相似的共性,又有其产品的特殊性：led为一种方向性的发光器件；发光体很小,可近似点光源；发光受环境及加工工艺影响较大。led光衰特性的测量周期很长(上万甚至几万小
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值,单位为烛光(坎德拉,cd)。「辐射带宽」光谱辐射功率大于等于最大值一半的波长间隔。led测试可参考「cie-127-1997 measurement of led」推荐标准,选
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论定律,从1965年第一个商业化的led开始算,在这30多年的发展中,led约每18个月;24个月可提升一倍的亮度,而在往后的10年内,预计亮度可以再提升20倍,而成本将降至现有的
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离的形式,将倒装芯片用硅载体直接焊在热沉上,并采用反射杯、光学透镜和柔性透明胶等新结构和新材料,现可提供单芯片1w、3w和5w的大功率led,lumileds公司拥有多项功率型白光二
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