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束,从骸骨的脑颅中射出……

认,上帝一定会喜欢他的。” “你只下地狱!” “是的,但是还有一个地方。” “地窖吗?” “是你的寝宫。” “呸!给我滚开!” “都是因为你的美貌,在我的梦中,全都是你的美貌,使我愿

  http://blog.alighting.cn/wengjijie/archive/2014/7/28/354774.html2014/7/28 7:41:15

可拍照手机的led闪灯实现方案

机覆盖区域之外,从而降低led输出的利用率。相反,一个具有更小角度的闪灯可能导致拍摄的照片边角出现暗区。 现在市场上供应的大多数用于相机闪灯的led组件都具有很宽的照

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/2/20/134133.html2011/2/20 23:00:00

500w探照灯

斑大小可调,易于接 水平扫描:常规90°-110°,垂直仰角在130°,可定做180°-360°旋转角度 防护等级:ip65,具有温度保护及防雨,防水功能 适合用处:船用探照

  http://blog.alighting.cn/cscuiyu123/archive/2010/8/27/93538.html2010/8/27 16:20:00

照明led的特性测量

性,led源在不同的c平面上有不同的强分布曲线; (4)、目前已进入工业化生产的“白”led,其谱混合是不均匀的,其颜色分布像强分布曲线一样,是随距离和角度的不同而发

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/2/20/134109.html2011/2/20 22:49:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

法,在同一试验成本下,使风险性下降到最低。3.2电参数测试方法与器件曲线在led寿命试验中,先对试验样品进行电参数测试筛选,淘汰电参数超规或异常的器件,合格者进行逐一编号

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

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