检索首页
阿拉丁已为您找到约 4867条相关结果 (用时 0.0031126 秒)

led芯片制造流程

随着技术的发展,led的效率有了非常大的进步。在不久的未来led会代替现有的照明灯泡。近几年人们制造led芯片过程中首先在衬底上制作氮化鎵(gan)基的外延片(外延片),外延片所

  http://blog.alighting.cn/wasabi/archive/2010/12/13/120531.html2010/12/13 22:58:00

led芯片寿命试验

低环境要求使led的应用范围加大可靠的led芯片质量将延长led的使用寿命   摘要:介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

led芯片寿命试验

介绍了led芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

led路灯驱动芯片!!!

sn3352 是dc-dc降压类型高效率的led驱动芯片,带温度补偿功能,输出电流高达700ma,芯片耐压40v,该封装尺寸小,发热少,是一款高端led路灯应用方案。与lm340

  http://blog.alighting.cn/xinmylily/archive/2009/6/30/4259.html2009/6/30 12:38:00

led芯片常识

5w-300w是集成芯片,用串/并联封装,主要看多少电流,电压,几串几并。1w 红光 亮度一般为30-40 lm; 1w 绿光亮度一般为60-80 lm; 1w 黄光 亮度一般为3

  http://blog.alighting.cn/www.nengzhaoled.com/archive/2012/4/28/273236.html2012/4/28 14:34:07

首页 上一页 1 2 3 4 5 6 7 下一页