检索首页
阿拉丁已为您找到约 22185条相关结果 (用时 0.007853 秒)

LED芯片寿命试验

低环境要求使LED的应用范围加大可靠的LED芯片质量将延长LED的使用寿命   摘要:介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准

  http://blog.alighting.cn/sg-lsb/archive/2008/12/1/9362.html2008/12/1 11:11:00

LED芯片常识

光角度不一样。特殊的发光角度,价格较高。  6、寿命  不同品质的关键是寿命,寿命由光衰决定。光衰小、寿命长,寿命长,价格高。7、LED芯片LED的发光体为芯片,不同的芯片,价格差

  http://blog.alighting.cn/www.nengzhaoled.com/archive/2012/4/28/273236.html2012/4/28 14:34:07

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/magicc/archive/2011/8/19/232818.html2011/8/19 0:29:00

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/12/19/258569.html2011/12/19 11:00:50

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/hengbin/archive/2012/1/8/261498.html2012/1/8 21:46:08

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/121509/archive/2012/1/29/262671.html2012/1/29 0:37:03

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/ciesawa/archive/2012/4/10/271773.html2012/4/10 23:32:48

LED芯片寿命试验

介绍了LED芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件,完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试

  http://blog.alighting.cn/nomonomo/archive/2012/5/16/274748.html2012/5/16 21:29:36

cree芯片LED

8)和大功率LED(1w-3w)。该类LED采用cree芯片,采用专利荧光粉。产品可销往日本,北美和欧洲市场。 产品参数:常规3528单芯白光(6-7lm,10*23芯片)。505

  http://blog.alighting.cn/SUNLIGHTLCP/archive/2011/4/12/165025.html2011/4/12 13:02:00

LED芯片厂商

齐(harvatek)等。 大陆LED芯片厂商: 三安光电简称(s)、上海蓝光(epilight)简称(e)、士兰明芯(sl)、大连路美简称(lm)、迪源光电、华灿光电、南昌欣磊、上海金桥大

  http://blog.alighting.cn/b789456123013/archive/2011/4/16/165818.html2011/4/16 19:03:00

首页 上一页 1 2 3 4 5 6 7 8 下一页