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美国理想工业公司（ideal）日前宣布推出一款名为signaltektm-fo的新型光纤与铜缆性能测试仪。该测试仪通过向线路发送以太网数据包，同时依据ieee802.3ab千兆以
https://www.alighting.cn/news/2007420/V2363.htm2007/4/20 11:00:56
非球面的光学测试技术介绍非球面及其相关知识，讨论了非球面光学检测的研究现状.按照测量原理的不同，对干涉法、阴影法、激光扫描法等几类典型的非球面测试技术进行了分析.通过比较各种方
https://www.alighting.cn/resource/2011/6/13/11830_93.htm2011/6/13 11:08:30
源近场光学分布模型?如何利用光源近场测角光度仪获得近场模型?近场测试可生成什么类型的文件以及如何利用这些生成的各种文档?另外，对于不常规的灯珠，例如大功率模组、裸晶、5面发光的cs
https://www.alighting.cn/pingce/20170124/147832.htm2017/1/24 10:49:03
led与半导体设备厂商美商veeco表示，将于2010年9月8日~9月10日在台北举行的semicon taiwan 2010国际半导体展览中，展示新型的光学式多功能3d显像轮廓
https://www.alighting.cn/news/20100901/105245.htm2010/9/1 0:00:00
雷昭光谱测试仪，为上海雷昭光电测控技术有限公司2016神灯奖申报技术。
https://www.alighting.cn/pingce/20160322/138283.htm2016/3/22 15:46:22
为了确保产品的可靠性和品质，一家位于北美的大型led固态照明产品制造商，再次选用了由世界领先的光学测量产品制造商蓝菲光学(labsphere)根据其要求定做的产品使用寿命加速测
https://www.alighting.cn/news/20080422/95902.htm2008/4/22 0:00:00
同也可能造成测试结果大相径庭。本文主要探讨使用德国instrument systems 公司的cas140ct 快速光谱仪进行led 光学性能测试时，不同的测试条件如暗电流、积分时间
https://www.alighting.cn/2013/4/19 14:18:55
日前上海半导体照明工程技术研究中心的 led 使用寿命测量实验室选用了蓝菲光学 (labsphere) 的定制 led 测试装置。
https://www.alighting.cn/news/20100421/117104.htm2010/4/21 0:00:00
led测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列，例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管led的测试一般包含电气和光学测量，本文着重探讨电气特
https://www.alighting.cn/resource/20120813/126466.htm2012/8/13 17:53:00
通过分析led(发光二极管)发光机理和封装特点,选择了led需要测试的光学参数:光通量、亮度、发光强度、空间光强分布、相对光谱功率分布及色度,进而研究了每个光学参数的特点。根据
https://www.alighting.cn/resource/20110922/127093.htm2011/9/22 17:47:59
