检索首页
阿拉丁已为您找到约 1306条相关结果 (用时 0.0089595 秒)

ptl插头力矩试验装置|插脚扭矩试验仪f37.16

m,精度至少为0.01Nm。(保持插座本身在垂直平面上的力矩不包括在测试值内)能在插脚的纵线方向给每个插脚施加50N的拉力1miN。能通过位移传感器a测试插脚的位移。能对每个插

  http://blog.alighting.cn/fangjungoing/archive/2010/11/29/117381.html2010/11/29 17:46:00

阐述功率型led封装发光效率

向空气时,根据折射定律,临界角θ0=siN-1(N2/N1)   其中N2等于1,即空气的折射率,N1是gaN的折射率,由此计算得到临界角θ0约为25.8度。在这种情况下,能射

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/2/20/134134.html2011/2/20 23:01:00

高亮度高纯度白光led封装技术研究

0Nm的Niau层,用于欧姆接触和背反射;第二步,采用掩模选择刻蚀p型层,露出多量子阱N型有源区;第三步,沉积、刻蚀形成N型欧姆接触区。芯片尺寸为1mmxlmm,p型欧姆接触区为正方

  http://blog.alighting.cn/zhiyan/archive/2011/2/20/134163.html2011/2/20 23:13:00

大功率照明级led的封装技术

造流程是:首先在外延片顶部的p型gaN上淀积厚度大于500a的Niau层,用于欧姆接触和背反射;再采用掩模选择刻蚀掉p型层和多量子阱有源层,露出N型层;经淀积、刻蚀形成N型欧姆接触

  http://blog.alighting.cn/neuway/archive/2011/6/19/222027.html2011/6/19 22:45:00

大功率照明级led的封装技术、材料详解

N上淀积厚度大于500a的Niau层,用于欧姆接触和背反射;再采用掩模选择刻蚀掉p型层和多量子阱有源层,露出N型层;经淀积、刻蚀形成N型欧姆接触层,芯片尺寸为1mm×1mm,p型欧

  http://blog.alighting.cn/zaqizaba/archive/2011/6/20/222243.html2011/6/20 22:21:00

led恒流驱动与不同控制模式的比较

础上改进的pfm/pwm控制技术,是pfm与pwm有机结合的控制方式(不是pfm与pwm的切换),是以输入电压确定N开关管开启时间,输出电压与输入电压差确定同步管开启时间,而不像pw

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/17/229870.html2011/7/17 22:49:00

高亮度高纯度白光led封装技术研究

层,露出多量子阱N型有源区;第三步,沉积、刻蚀形成N型欧姆接触区。芯片尺寸为1mmxlmm,p型欧姆接触区为正方形,N型欧姆接触区为梳状形,这样可以减小电阻。第四步,将带有金属化凸点的

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/7/20/230482.html2011/7/20 23:12:00

高亮度高纯度白光led封装技术研究

层,露出多量子阱N型有源区;第三步,沉积、刻蚀形成N型欧姆接触区。芯片尺寸为1mmxlmm,p型欧姆接触区为正方形,N型欧姆接触区为梳状形,这样可以减小电阻。第四步,将带有金属化凸点的

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/8/18/232671.html2011/8/18 1:26:00

白光型发光二极管之背光设计

有的注意及要领。手机、数码相机(1.2∼2.5)

  http://blog.alighting.cn/q89481240/archive/2011/8/18/232680.html2011/8/18 1:40:00

西班牙 蒙德拉贡大学商学院

i, spaiN  合作者:marta porroy  项目总监及施工管理:lks, hoz foNN arquitectos  摄影:josé hevia   这

  http://blog.alighting.cn/miamia/archive/2011/8/19/232940.html2011/8/19 19:01:00

首页 上一页 55 56 57 58 59 60 61 62 下一页